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Microscopio de medición de alta precisión de 3 ejes Hawk 200

El Hawk 200 combina imágenes ópticas superiores con mesas de medición de alta precisión para brindar una medición sencilla y precisa de 3 ejes de componentes complejos, incluidos plásticos negros o transparentes ...

inicio medición hawk 200 datos técnica
0 Generalidades Detalles QC-200 Datos técnicos

Datos técnica

Para analizar sus necesidades concretas de manera más detallada, por favor, contacte con su representante local de Vision Engineering.

Hawk 200
Opciones de aumento
x10, x20*, x50, x100, x200, x500, x1000
Opciones de iluminación de superficie
Anillo de luz de 6 puntos, 150 W
Episcópica de 100 W (a través de la lente)
Iluminación del contorno
Contorno de 100 W
Opciones de procesador de datos
QC-200*
QC-300
QC-5000
* opciones estándar

Opciones de mesa de medición de alta precisión
Opción de mesa de medición
de 150 mm x 150 mm
Opción de mesa de medición
de 200 mm x 150 mm
Gama de medición
X
Y
Z†

150mm
150mm
200 - 250mm
Gama de medición
X
Y
Z†

150mm
150mm
200 - 250mm
Carga máxima de la placa de cristal
15kgs
Carga máxima de la placa de cristal
20kgs
Resolución del codificador
X
Y
Z


0,001mm
0,001mm
0,0005mm
Resolución del codificador
X
Y
Z


0,0005mm
0,0005mm
0,0005mm
Repetibilidad de la mesa
X
Y
Z


0,002mm
0,002mm
0,008mm
Repetibilidad de la mesa
X
Y
Z


0,002mm
0,002mm
0,008mm
Error de medición
U952D = 4+(5,5L/1000)µm‡
Error de medición
U952D = 2+(4,5L/1000)µm‡

Opciones de mesa de medición de alta capacidad
Opción de mesa de medición
de 300 mm x 225 mm
Opción de mesa de medición
de 400 mm x 300 mm
Gama de medición
X
Y
Z†

300mm
225mm
40 - 89mm*
Gama de medición
X
Y
Z†

400mm
300mm
40 - 89mm*
Carga máxima de la placa de cristal
25kgs
Carga máxima de la placa de cristal
25kgs
Resolución del codificador
X
Y
Z


0,001mm
0,001mm
0,001mm
Resolución del codificador
X
Y
Z


0,001mm
0,001mm
0,001mm
Repetibilidad de la mesa
X
Y
Z


0,010mm
0,010mm
0,010mm
Repetibilidad de la mesa
X
Y
Z


0,010mm
0,010mm
0,010mm
Error de medición
U952D = 15+(6,5L/1000)µm‡
Error de medición
U952D = 15+(8,5L/1000)µm‡
* la distancia puede aumentarse con el añadido de una ampliación del soporte.
† depende de la configuración.
‡ donde L = longitud medida en mm (aumento del sistema de x200, 20°C controlados, usando cromo trazable en artefacto de cuadrícula de cristal, con puntos de intersección en el plano de medición estándar)






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