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Microscopio de medición de alta precisión de 3 ejes Hawk 200
El Hawk 200 combina imágenes ópticas superiores con mesas de medición de alta precisión para brindar una medición sencilla y precisa de 3 ejes de componentes complejos, incluidos plásticos negros o transparentes ...
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Para analizar sus necesidades concretas de manera más detallada, por favor, contacte con su representante local de Vision Engineering.
Hawk 200 |
Opciones de aumento |
x10, x20*, x50, x100, x200, x500, x1000 |
Opciones de iluminación de superficie |
Luz anular LED de 8 puntos*
Episcópica de 100 W (a través de la lente)
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Iluminación del contorno |
Contorno de 100 W |
Opciones de procesador de datos |
QC-200*
QC-300
QC-5000
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* opciones estándar
Opciones de mesa de medición de alta precisión |
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Opción de mesa
de medición
de
150 mm x 150 mm |
Opción de mesa
de medición de
200 mm x 150 mm |
Gama de
medición
X
Y
Z  |
150mm
150mm
202 - 255mm |
200mm
150mm
202 - 255mm |
Error de medición |
U952D = 4+(5.5L/1000)µm† |
U952D = 2+(4.5L/1000)µm† |
Carga máxima de
la placa de cristal |
15kg |
20kg |
Resolución
del codificador
X
Y
Z |
0,001mm
0,001mm
0,0005mm
|
0,0005mm
0,0005mm
0,0005mm
|
Repetibilidad
de la mesa
X
Y
Z |
0,004mm
0,004mm
0,004mm‡
|
0,002mm
0,002mm
0,004mm‡
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Opciones de mesa de medición de alta capacidad |
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Opción de mesa
de medición
de
300 mm x 225 mm |
Opción de mesa
de medición
de
400 mm x 300 mm |
Gama de
medición
X
Y
Z |
300mm
225mm
40 - 89mm* |
400mm
300mm
40 - 89mm* |
Error de medición |
U952D = 15+(6,5L/1000)µm† |
U952D = 15+(8,5L/1000)µm† |
Carga máxima de
la placa de cristal |
25kg |
25kg |
Resolución
del codificador
X
Y
Z |
0,001mm
0,001mm
0,001mm
|
0,001mm
0,001mm
0,001mm
|
Repetibilidad
de la mesa
X
Y
Z |
0,010mm
0,010mm
0,010mm
|
0,010mm
0,010mm
0,010mm
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Key: |
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Depende de la configuración. |
| * |
La distancia puede aumentarse con el añadido de una ampliación del soporte. |
| † |
Donde L = longitud medida en mm (aumento del sistema de x200, 20°C controlados, usando cromo trazable en artefacto de cuadrícula de cristal, con puntos de intersección en el plano de medición estándar). |
| ‡ |
Basado en la utilización de lentes macro 10x (aumento del sistema x100). |
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