Para analizar sus necesidades concretas de manera más detallada, por favor, contacte con su representante local de Vision Engineering.
Hawk 300 |
Opciones de aumento |
x10, x20*, x50, x100, x200, x500, x1000 |
Opciones de iluminación de superficie |
Anillo de luz de 6 puntos, 150 W*
Episcópica de 100 W (a través de la lente)
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Iluminación del contorno |
Contorno de 100 W |
Opciones de procesador de datos |
QC-200
QC-300*
QC-5000
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* opciones estándar
Opciones de mesa de medición de alta precisión |
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Opción de mesa de medición
de 150 mm x 150 mm |
Opción de mesa de medición
de 200 mm x 150 mm |
Gama de medición
X
Y
Z†
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150mm
150mm
200 - 250mm
|
Gama de medición
X
Y
Z†
|
150mm
150mm
200 - 250mm
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Carga máxima de la placa de cristal |
15kgs |
Carga máxima de la placa de cristal |
20kgs |
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Resolución del codificador
X
Y
Z |
0,001mm
0,001mm
0,0005mm
|
Resolución del codificador
X
Y
Z |
0,0005mm
0,0005mm
0,0005mm
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Repetibilidad de la mesa
X
Y
Z |
0,002mm
0,002mm
0,008mm
|
Repetibilidad de la mesa
X
Y
Z |
0,002mm
0,002mm
0,008mm
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Error de medición |
U952D = 4+(5,5L/1000)µm* |
Error de medición |
U952D = 2+(4,5L/1000)µm* |
Opciones de mesa de medición de alta capacidad |
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Opción de mesa de medición
de 300 mm x 225 mm |
Opción de mesa de medición
de 400 mm x 300 mm |
Gama de medición
X
Y
Z† |
300mm
225mm
40 - 89mm*
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Gama de medición
X
Y
Z† |
400mm
300mm
40 - 89mm*
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Carga máxima de la placa de cristal |
25kgs |
Carga máxima de la placa de cristal |
25kgs |
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Resolución del codificador
X
Y
Z |
0,001mm
0,001mm
0,001mm
|
Resolución del codificador
X
Y
Z |
0,001mm
0,001mm
0,001mm
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Repetibilidad de la mesa
X
Y
Z |
0,010mm
0,010mm
0,010mm
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Repetibilidad de la mesa
X
Y
Z |
0,010mm
0,010mm
0,010mm
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Error de medición |
U952D = 15+(6,5L/1000)µm* |
Error de medición |
U952D = 15+(8,5L/1000)µm* |
* la distancia puede aumentarse con el añadido de una ampliación del soporte.
† depende de la configuración.
‡ donde L = longitud medida en mm (aumento del sistema de x200, 20°C controlados, usando cromo trazable en artefacto de cuadrícula de cristal, con puntos de intersección en el plano de medición estándar).
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