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Hawk 300 |
Options de grossissement |
x10, x20*, x50, x100, x200, x400, x500, x1000 |
Options d'éclairage de la surface |
Anneau d'illumination à 6 points de 150W*
Éclairage épiscopique (à travers la lentille) de 100W
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Illumination du dessous de la platine |
Éclairage du dessous de la platine de 100W |
Options du processeur de données |
QC-200
QC-300*
QC-5000
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* option standard
Options de la platine de mesure haute précision |
Options de grossissement |
x10, x20*, x50, x100, x200, x400, x500, x1000 |
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Option platine de mesure 150 x 150 mm
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Option platine de mesure 150 x 200 mm
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Plage de mesure
X Y (déplacement rapide) Z (déplacement précis) Z
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150mm
150mm
230mm
230mm
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Plage de mesure
X Y (déplacement rapide) Z (déplacement précis) Z
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200mm
150mm
230mm
230mm
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Charge maximale de la lamelle en verre |
15kgs |
Charge maximale de la lamelle en verre |
20kgs |
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Résolution du codeur
X Y Z
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0,001mm
0,001mm
0,0005mm
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Résolution du codeur
X Y Z
|
0,0005mm
0,0005mm
0,0005mm
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Répétabilité de la platine
X Y Z
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0,002mm
0,002mm
0,008mm
|
Répétabilité de la platine
X Y Z
|
0,002mm
0,002mm
0,008mm
|
Incertitude de mesure |
U952D = 4+(5,5L/1000)µm* |
Incertitude de mesure |
U952D = 2+(4,5L/1000)µm* |
Options de la platine de mesure haute capacité |
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Option platine de mesure 300 x 225 mm
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Option platine de mesure 400 x 300 mm
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Plage de mesure
X Y (déplacement rapide) Z (déplacement précis) Z
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300mm
225mm
90mm
50mm
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Plage de mesure
X Y (déplacement rapide) Z (déplacement précis) Z
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400mm
300mm
90mm
50mm
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Charge maximale de la lamelle en verre |
25kgs |
Charge maximale de la lamelle en verre |
25kgs |
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Résolution du codeur
X Y Z
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0,001mm
0,001mm
0,001mm
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Résolution du codeur
X Y Z
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0,001mm
0,001mm
0,001mm
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Répétabilité de la platine
X Y Z
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0,010mm
0,010mm
0,010mm
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Répétabilité de la platine
X Y Z
|
0,010mm
0,010mm
0,010mm
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Incertitude de mesure |
U952D = 15+(6,5L/1000)µm* |
Incertitude de mesure |
U952D = 15+(8,5L/1000)µm* |
* où L = longueur mesurée en mm (grossissement de x200, température régulée de 20 °C, utilisation d'un artéfact de grille en verre, avec points d'intersection au niveau du plan de mesure standard)
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