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ホーク200 3軸高精度測定顕微鏡
ホーク200は高解像の光学ヘッドと高精度測定ステージで構成された、シンプルな3軸測定システムです。白や黒の樹脂製品など高解像なイメージが要求されるアップリケーションには最適です。
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測定
ホーク200
テクニカル
テクニカル
仕様の詳細につきましては、最寄のヴィジョン・エンジニアリング販売店に
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ください。
ホーク200
倍率
x10, x20*, x50, x100, x200, x400, x500, x1000
反射照明
150W6点リング照明
100WEPI(同軸)照明
透過照明
100W透過照明
データ処理
QC-200*
QC-300
QC-5000
*標準
高精度測定ステージ
150mmx150mm測定ステージ
200mmx150mm測定ステージ
測定範囲
X
Y
粗動−移動範囲
微動−移動範囲
150mm
150mm
230mm
230mm
測定範囲
X
Y
粗動−移動範囲
微動−移動範囲
200mm
150mm
230mm
230mm
最大荷重−ガラスプレート
10kgs
最大荷重−ガラスプレート
20kgs
エンコーダ分解能
X
Y
Z
0.001mm
0.001mm
0.0005mm
エンコーダ分解能
X
Y
Z
0.0005mm
0.0005mm
0.0005mm
測定ステージ繰返精度
X
Y
Z
0.002mm
0.002mm
0.008mm
測定ステージ繰返精度
X
Y
Z
0.002mm
0.002mm
0.008mm
測定精度
U
95
2D = 4+(5.5L/1000)µm*
測定精度
U
95
2D = 2+(4.5L/1000)µm*
大型測定ステージ
300mmx225mm測定ステージ
400mmx300mm測定ステージ
測定範囲
X
Y
粗動−移動範囲
微動−移動範囲
300mm
225mm
90mm
50mm
測定範囲
X
Y
粗動−移動範囲
微動−移動範囲
400mm
300mm
90mm
50mm
最大荷重−ガラスプレート
25kgs
最大荷重−ガラスプレート
25kgs
エンコーダ分解能
X
Y
Z
0.001mm
0.001mm
0.001mm
エンコーダ分解能
X
Y
Z
0.001mm
0.001mm
0.001mm
測定ステージ繰返精度
X
Y
Z
0.010mm
0.010mm
0.010mm
測定ステージ繰返精度
X
Y
Z
0.010mm
0.010mm
0.010mm
測定精度
U
95
2D = 15+(6.5L/1000)µm*
測定精度
U
95
2D = 15+(8.5L/1000)µm*
* L=測定長mm(200倍、測定室温度20℃)
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